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 Low-Dose Electron Microscopy Imaging of Electron Beam-Sensitive Crystalline Materials 电子束敏感晶体材料的低剂量电子显微镜成像
相关领域
电子显微镜
电子
材料科学
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电子断层摄影术
显微镜
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光学
扫描透射电子显微镜
物理
核物理学
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期刊：Accounts of materials research 作者：Jia Lv; Hui Zhang; Daliang Zhang; Lingmei Liu; Yu Han 出版日期：2022-04-19 |
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