标题 |
Suitable contacting scheme for evaluating electrical properties of GaN-based p-type layers
GaN基p型层电性能评价的合适接触方案
相关领域
薄脆饼
材料科学
退火(玻璃)
电阻率和电导率
电极
化学气相沉积
金属
分析化学(期刊)
电接点
接触电阻
蚀刻(微加工)
光电子学
霍尔效应
各向同性腐蚀
图层(电子)
复合材料
化学
冶金
电气工程
物理化学
色谱法
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Semiconductors/Journal of semiconductors 作者:Siyi Huang; Masao Ikeda; Minglong Zhang; Jianjun Zhu; Jianping Liu 出版日期:2023-05-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|