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MI-YOLO: more information based YOLO for insulator defect detection
MI-YOLO:更多基于信息的绝缘子缺陷检测YOLO
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期刊:Journal of Electronic Imaging 作者:Shengyang Luan; Chunlei Li; Peng Xu; Yihui Huang; Xiaoyan Wang 出版日期:2023-07-17 |
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