| 标题 |
 Insights into abnormal grain growth in copper thin films for reduced electrical resistivity: A quantitative multi-order-parameter phase-field study under finite element framework 降低电阻率铜薄膜中晶粒异常生长的研究：有限元框架下多阶参数相场定量研究
相关领域
材料科学
电阻率和电导率
铜
薄膜
微观结构
微电子
晶界
晶粒生长
各向异性
相（物质）
粒度
电迁移
冶金
凝聚态物理
复合材料
纳米技术
光学
电气工程
物理
化学
工程类
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Acta Materialia 作者：Peng Wei; Jianbao Gao; Tiwen Lu; Binhan Sun; Xiancheng Zhang; et al 出版日期：2023-11-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
cctv18
gjww
优雅山灵
紫金大萝卜
Singularity
Cactus
爱听歌的钢铁侠
阿大呆呆
搬书胖瘦胖
newfat
zzz4743
FashionBoy
Leonardi
Maestro_S
pcr163
爆米花
脑洞疼
bravo
凤凰
从容芮
皖公网安备34019202002308
