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 High-Resolution Detection of Microwave Fields on Chip Surfaces Based on Scanning Microwave Microscopy 基于扫描微波显微镜的芯片表面微波场高分辨率检测
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Tao Pei; Fan Cheng; Xu Jia; Zhong Hao Li; Hao Guo; et al 出版日期：2023-01-01 |
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