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Probing Nanoscale Schottky Barrier Characteristics at WSe2/Graphene Heterostructures via Electrostatic Doping (Adv. Electron. Mater. 9/2022) |
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Filipe Richheimer; Tom Vincent; Alessandro Catanzaro; Nathaniel J. Huáng; Mark A. Baker; et al 出版日期:2022-09-08 |
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(2025-6-4)