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Predicting the reliability of polyisobutylene seal for photovoltaic application
光伏用聚异丁烯密封可靠性预测
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Hua Liu; Jian Feng; Edoardo Nicoli; Leonardo C. López; Keith Kauffmann; et al 出版日期:2012-10-16 |
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