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![]() 硒化铜热电性能的实验与理论研究
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期刊:Semiconductors 作者:L. P. Bulat; V. B. Osvenskiĭ; А. А. Иванов; A. I. Sorokin; D. A. Pshenay-Severin; et al 出版日期:2017-06-30 |
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