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![]() 电子辐射对InP基高电子迁移率晶体管S22扭结效应的影响
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Sheng-Hao Meng; Shuxiang Sun; Peng Ding; J J Zhang; Bo Yang; et al 出版日期:2021-06-24 |
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