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 Method for the determination of bulk and interface density of states in thin-film transistors 薄膜晶体管中体态密度和界面态密度的测定方法
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：O.K.B. Lui; Simon Wing-Bun Tam; P. Migliorato; Tatsuya Shimoda 出版日期：2001-06-01 |
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