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 Corrosion Studies on Gold-Plated Electrical Contacts 镀金电触头的腐蚀研究
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Karumbu Meyyappan; Gregorio Murtagian; Anil Kurella; Balu Pathangey; Alan McAllister; et al 出版日期：2014-07-11 |
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