标题 |
![]() 镀金电触头的腐蚀研究
相关领域
腐蚀
材料科学
微电子
冶金
电接点
镀金(软件工程)
镀锌
接触电阻
电镀(地质)
化学镀
电子包装
沉浸式(数学)
复合材料
电镀
光电子学
工程类
数学
软件工程
图层(电子)
地球物理学
纯数学
地质学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Karumbu Meyyappan; Gregorio Murtagian; Anil Kurella; Balu Pathangey; Alan McAllister; et al 出版日期:2014-07-11 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|