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Extraction of the Thermal Resistance and the Thermal Capacitance of GaN Power HEMTs by Using Pulsed I–V Measurements 利用脉冲I-V测量提取GaN功率HEMT的热阻和热容
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Richard Reiner; Akshay G. Nambiar; Michael Basler; Stefan Mönch; Patrick Waltereit; et al 出版日期:2024-07-23 |
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