标题 |
![]() 与IGBT模块上SOA电气关断相关的长期加速功率循环测试的失效标准。采用AlSiC底板的1200A-3300V模块的4000小时测试
相关领域
期限(时间)
绝缘栅双极晶体管
考试(生物学)
基础(拓扑)
功率(物理)
动力循环
电气工程
可靠性工程
工程类
汽车工程
可靠性(半导体)
电压
物理
数学
地质学
数学分析
古生物学
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:G. Coquery; Richard Lallemand 出版日期:2000-08-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|