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 Analysis of highly resolved x‐ray photoelectron Cr 2p spectra obtained with a Cr 2 O 3 powder sample prepared with adhesive tape 相关领域
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期刊：Surface and Interface Analysis 作者：E. Ünveren; E. Kemnitz; S. Hutton; A. Lippitz; W. E. S. Unger 出版日期：2004-01-14 |
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