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Study of the Surface and Bulk States of Bi2Te3 Topological Insulators Using Terahertz Time‐Domain Spectroscopy 用太赫兹时域光谱研究Bi2Te3拓扑绝缘体的表面和体态
相关领域
太赫兹辐射
拓扑绝缘体
光谱学
材料科学
表面状态
半导体
太赫兹光谱与技术
散射
凝聚态物理
光电子学
物理
曲面(拓扑)
光学
量子力学
几何学
数学
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期刊:physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters 作者:Lan Ding; Min Wu; Shun Zhou; Ludan Zhu; Hua Wen; et al 出版日期:2023-05-06 |
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