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Class Imbalance Wafer Defect Pattern Recognition Based on Shared-database Decentralized Federated Learning Framework
基于共享数据库分散式联邦学习框架的类不平衡晶圆缺陷模式识别
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期刊:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者:Yong Zhang; Rukai Lan; Xianhe Li; Jingzhong Fang; Zuowei Ping; et al 出版日期:2024 |
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