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 Resistive Memory Devices at the Thinnest Limit: Progress and Challenges 最薄极限电阻存储器件：进展与挑战
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期刊：Advanced Materials 作者：Xiaodong Li; Nian‐Ke Chen; Bai‐Qian Wang; Meng Niu; Ming Xu; et al 出版日期：2024-01-10 |
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