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Depth-resolved ultra-violet spectroscopic photo current-voltage measurements for the analysis of AlGaN/GaN high electron mobility transistor epilayer deposited on Si |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Burcu Ozden; Chungman Yang; Fei Tong; Min P. Khanal; Vahid Mirkhani; et al 出版日期:2014 |
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