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 Dynamic lock-in thermography for operation mode-dependent thermally active fault localization 用于运行模式相关热活动故障定位的动态锁定热成像
相关领域
热成像
电阻式触摸屏
锁（火器）
电子工程
热的
材料科学
灵敏度（控制系统）
计算机科学
工程类
光电子学
电气工程
光学
机械工程
物理
气象学
红外线的
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Rudolf Schlangen; Hervé Deslandes; Ted Lundquist; Christian Schmidt; Frank Altmann; et al 出版日期：2010-08-14 |
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