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 Heavy ion micro-beam study of single-event transient (SET) in SiGe heterjunction bipolar transistor 重离子微束研究硅异结双极晶体管单粒子瞬间（SET）
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期刊：Science China Information Sciences 作者：Jinxin Zhang; Hongxia Guo; Fengqi Zhang; Chaohui He; Pei Li; et al 出版日期：2017-11-06 |
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