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 Robustness Analysis of 1200-V IGBT Under Extremely High-Gate Voltage Stress 极高栅极电压应力下1200-V IGBT鲁棒性分析
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Peng Liao; Hang Xu; Jianbin Guo; Xin-Ru Chen; Changhao Wang; et al 出版日期：2025-03-04 |
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