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  Silicon strip defects and their impact on electrical performance of readout electronics 硅带缺陷及其对读出电子器件电学性能的影响
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期刊：Journal of Instrumentation 作者：A. A. Affolder; V. Fadeyev; Z. Galloway; M. Gignac; J. Gunnell; et al 出版日期：2021-03-01 |
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