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标题
[高分] Short Term Cell-Flipping Technique for Mitigating SNM Degradation Due to NBTI
相关领域
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网址
https://doi.org/10.1587/transele.e94.c.520
DOI
10.1587/transele.e94.c.520 doi
其它 期刊：IEICE Transactions on Electronics
作者：Yuji Kunitake; Toshinori Sato; Hiroto Yasuura
出版日期：2011-01-01
求助人
凌云 在 2025-10-17 14:48:40 发布自海南，悬赏 150 积分
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