标题 |
High-resolution radiation detection using Ni/SiO2/n-4H-SiC vertical metal-oxide-semiconductor capacitor
用Ni/SiO2/n-4H-SiC垂直金属氧化物半导体电容器进行高分辨辐射探测
相关领域
深能级瞬态光谱
材料科学
光电子学
分析化学(期刊)
肖特基势垒
电容器
肖特基二极管
硅
化学
电压
二极管
物理
色谱法
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Sandeep K. Chaudhuri; OmerFaruk Karadavut; Joshua W. Kleppinger; Krishna C. Mandal 出版日期:2021-08-16 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|