| 标题 |
 Direct observation of leakage currents in a metal–insulator–metal capacitor using in situ transmission electron microscopy 相关领域
材料科学
氧化钇稳定氧化锆
光电子学
金属绝缘体金属
透射电子显微镜
金属
结晶
绝缘体（电）
结晶度
薄膜
电容器
电极
电压
泄漏（经济）
电容
纳米技术
复合材料
立方氧化锆
电气工程
化学工程
陶瓷
宏观经济学
经济
工程类
|
| 备注 |
需要官方网站正式出版的，不需要scihub上下载的接收稿件
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nanotechnology 作者：Kang-Sik Kim; Jung Hyun Kim; Bo Keun Park; Hyungjun Kim; Zonghoon Lee 出版日期：2018-08-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
冰魂
cdercder
科研助手6
昏睡的蟠桃
jenningseastera
平常的毛豆
可千万不要躺平呀
iNk
椰子在长江送礼物
就叫柠檬吧
8R60d8
bc
pcr163
Alex
王十
pluto
谈笑间
LaTeXer
kingwill
子车茗
皖公网安备34019202002308
