Direct observation of leakage currents in a metal–insulator–metal capacitor using in situ transmission electron microscopy

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标题	Direct observation of leakage currents in a metal–insulator–metal capacitor using in situ transmission electron microscopy 相关领域材料科学氧化钇稳定氧化锆光电子学金属绝缘体金属透射电子显微镜金属结晶绝缘体（电）结晶度薄膜电容器电极电压泄漏（经济）电容纳米技术复合材料立方氧化锆电气工程化学工程陶瓷宏观经济学经济工程类
备注	需要官方网站正式出版的，不需要scihub上下载的接收稿件
网址	https://doi.org/10.1088/1361-6528/aad9bc
DOI	10.1088/1361-6528/aad9bc doi
其它	期刊：Nanotechnology 作者：Kang-Sik Kim; Jung Hyun Kim; Bo Keun Park; Hyungjun Kim; Zonghoon Lee 出版日期：2018-08-28
求助人	西格玛在 2023-04-04 16:39:54 发布自湖北，悬赏 10 积分
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