Failure analysis of GaN-based Light-emitting diode with hole vertical structure

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标题	Failure analysis of GaN-based Light-emitting diode with hole vertical structure 相关领域材料科学空隙（复合材料）扫描电子显微镜发光二极管光电子学复合材料光学显微镜二极管焊接光学物理
网址	https://doi.org/10.7498/aps.66.048501
DOI	10.7498/aps.66.048501 doi
其它	期刊：Acta Physica Sinica 作者：Fu Min; Wen Shang-sheng; 夏云云 XIA Yun-yun; Xiang Chang-Ming; Ma Bing-Xu; et al 出版日期：2017-01-01
求助人	Lucas 在 2025-10-10 10:49:01 发布自青海，悬赏 10 积分
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