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 Efficient Statistical Parameter Extraction for Modeling MOSFET Mismatch 用于MOSFET失配建模的高效统计参数提取
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期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Kun Wu; Nanlin Guo; Fei Li; Nengyong Zhu; Jun Tao; et al 出版日期：2022-09-15 |
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