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 Experimental Validation of Switching Dependence of Nanoscale Y2O3 Memristors on Electrode Symmetry via Physical Electrothermal Modeling 通过物理电热模型实验验证纳米Y2O3忆阻器开关对电极对称性的依赖性
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期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Mohit Kumar Gautam; Sanjay Kumar; Sumit Chaudhary; Lokesh Kumar Hindoliya; Dhananjay D. Kumbhar; et al 出版日期：2023-07-05 |
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JPL3729
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