Electron Channeling Contrast Imaging for Beyond Silicon Materials Characterization

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标题	Electron Channeling Contrast Imaging for Beyond Silicon Materials Characterization 用于超硅材料表征的电子沟道对比成像相关领域表征（材料科学）薄脆饼硅材料科学工作流程半导体光电子学吞吐量电子纳米技术工程物理计算机科学工程类物理核物理学操作系统数据库无线
网址	https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2018p0363
DOI	10.31399/asm.cp.istfa2018p0363 doi
其它	期刊：Proceedings 作者：Libor Strakoš; Ondřej Machek; T. Vystavěl; Andreas Schulze; Han Han; et al 出版日期：2018-11-01
求助人	黎黎黎黎黎在 2024-03-29 19:39:08 发布自广东，悬赏 10 积分
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