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 Persistent and reliable electrical properties of ReS2 FETs using PMMA encapsulation 使用PMMA封装的Res2 FET持久可靠的电性能
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期刊：Current Applied Physics 作者：Eui-Hyoun Ryu; Miri Seo; Yugyeong Je; HyunJeong Jeong; Gyu‐Tae Kim; et al 出版日期：2023-04-01 |
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