| 标题 |
Operando study of HfO2 atomic layer deposition on partially hydroxylated Si(111) 部分羟基化Si(111)上HfO2原子层沉积的操作研究
相关领域
原子层沉积
X射线光电子能谱
沉积(地质)
微电子
化学
氧化物
配体(生物化学)
分析化学(期刊)
化学气相沉积
图层(电子)
单层
化学工程
材料科学
纳米技术
有机化学
古生物学
生物化学
受体
沉积物
工程类
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者:Rosemary Jones; Giulio D’Acunto; Payam Shayesteh; Indiana Pinsard; F. Rochet; et al 出版日期:2024-02-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)