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 Experimental Demonstration of Conjugate Structured Illumination Microscopy (c-SIM) for Sensing Deep Subwavelength Perturbations in Background Nanopatterns 共轭结构照明显微镜（c-SIM）用于检测背景纳米图案中深亚波长扰动的实验演示
相关领域
材料科学
显微镜
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结合
光学显微镜
光学
光电子学
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物理
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数学
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期刊：ACS Photonics 作者：Jinsong Zhang; Renjie Zhou; Nicholas X. Fang; Weijie Deng; Jinlong Zhu; et al 出版日期：2025-04-24 |
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