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Probing Gate Dielectrics for Two-Dimensional Electronics at Atomistic Scale Using Transmission Electron Microscope
透射电子显微镜在原子尺度上探测二维电子学中的栅介质
相关领域
材料科学
范德瓦尔斯力
电介质
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数码产品
纳米技术
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分子
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Chen Luo; Tao Xu; Zhihao Yu; Xinran Wang; Litao Sun; et al 出版日期:2023-04-01 |
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