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 Measurement of Radioactivity of Materials for Low-Background Experiments Using a Semiconductor Gamma-Ray Spectrometer 用半导体γ能谱仪测量低本底实验用材料的放射性
相关领域
物理
分光计
半导体探测器
γ能谱仪
半导体
核物理学
光学
探测器
光电子学
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期刊：Physics of Atomic Nuclei 作者：A. Veresnikova; Yu. M. Gavrilyuk; A. M. Gangapshev; V. V. Kazalov; M. M. Kochkarov; et al 出版日期：2024-12-01 |
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