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 X-ray Tomoscopy: Time-resolved Microtomography for Materials Science X射线断层扫描：材料科学的时间分辨显微断层扫描
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Francisco García‐Moreno; Paul H. Kamm; Tillmann Robert Neu; Mareike Wegener; Stephan Börner; et al 出版日期：2022-07-22 |
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