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![]() 具有场板和高k钝化层的AlGaN/GaN HEMT中慢电流瞬态或电流崩溃的分析
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Kazuki Komoto; Yasunori Saito; Ryouhei Tsurumaki; K. Horio 出版日期:2022-05-11 |
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