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Determining lifetime in silicon blocks and wafers with accurate expressions for carrier density 用载流子密度的精确表达式确定硅块和晶片的寿命
相关领域
薄脆饼
载流子寿命
钝化
硅
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Stuart Bowden; Ronald A. Sinton 出版日期:2007-12-15 |
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