| 标题 |
 Determining lifetime in silicon blocks and wafers with accurate expressions for carrier density 用载流子密度的精确表达式确定硅块和晶片的寿命
相关领域
薄脆饼
载流子寿命
钝化
硅
材料科学
光电子学
扩散
纳米技术
物理
图层（电子）
热力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Stuart Bowden; Ronald A. Sinton 出版日期：2007-12-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
大力的灵雁
无极微光
你嵙这个期刊没买
干净的琦
dew
pcr163
ephore
贪玩的秋柔
明亮的不正
伊比利亚的微风
热心市民小红花
Winfred
JoePaepule
蓝莓橘子酱
Untitled
听风说雨
lizishu
eric888
GingerF
乐空思
皖公网安备34019202002308
