| 标题 |
 Signature reliability analysis of complex consecutive k-out-of-n:W CMO system via UGF and SFA 基于UGF和SFA的复杂连续k-out-of-n：W CMO系统签名可靠性分析
相关领域
CMOS芯片
可靠性（半导体）
微波食品加热
稳健性（进化）
功能（生物学）
可靠性工程
计算机科学
高频SS
电子工程
物理
工程类
电信
量子力学
功率（物理）
微带天线
化学
生物化学
进化生物学
基因
天线（收音机）
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers Part O Journal of Risk and Reliability 作者：Sadiya Naaz; Rashmi Khanna; Riya Rawat; Neha Negi; Mangey Ram; et al 出版日期：2023-09-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
无极微光
yznfly
Zx_1993
xxfsx
小青椒
Mic
求助人员
qingmoheng
风吹麦田
淡定绮波
邓佳鑫Alan
欣喜的秋莲
pcr163
子车茗
淡淡土豆
eric888
彭于彦祖
昏睡的蟠桃
寻道图强
小柚子的傻二哥
GingerF
12
freyaaaaa
皖公网安备34019202002308
