| 标题 |
[高分]
Coexistence of Ohmic Contact and Fermi Level Pinning at 2D Electride/2D Semiconductor Interfaces 二维电极/二维半导体界面欧姆接触和费米能级钉扎的共存
相关领域
欧姆接触
凝聚态物理
化学
范德瓦尔斯力
费米能级
半导体
肖特基势垒
工作(物理)
肖特基二极管
望远镜
工作职能
费米气体
带隙
电子
准费米能级
电子结构
热传导
导带
半导体器件
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of the American Chemical Society 作者:Chengda Pan; Dazhong Sun; Zhennan Lin; Xianghong Niu; Yelin Wu 出版日期:2026-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)