| 标题 |
[高分]
 Coexistence of Ohmic Contact and Fermi Level Pinning at 2D Electride/2D Semiconductor Interfaces 二维电极/二维半导体界面欧姆接触和费米能级钉扎的共存
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| 其它 |
期刊：Journal of the American Chemical Society 作者：Chengda Pan; Dazhong Sun; Zhennan Lin; Xianghong Niu; Yelin Wu 出版日期：2026-01-01 |
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