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![]() SiH4碎片和H自由基对电感耦合等离子体PECVD沉积nc-Si:H薄膜的影响
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期刊:Surfaces and Interfaces 作者:Min Young Yoon; Hee Jung Yeom; Jong‐Ryul Jeong; Hyo‐Chang Lee; Jung‐Hyung Kim 出版日期:2025-02-01 |
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