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![]() 用于近红外光谱选择性偏振敏感光电检测的MoS2光栅和InSe薄片的全范德华异质结构
相关领域
光探测
材料科学
光电子学
范德瓦尔斯力
异质结
栅栏
极化(电化学)
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其它 |
期刊:ACS Nano 作者:Yu‐Te Chu; Po‐Liang Chen; Shih‐Hsiu Huang; Shyam Narayan Singh Yadav; Wei-Ren Syong; et al 出版日期:2025-05-07 |
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