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![]() 高压氢气暴露对维氏压痕周围残余应力场和裂纹的影响
相关领域
材料科学
残余应力
氢
薄脆饼
复合材料
缩进
冶金
化学
纳米技术
有机化学
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其它 |
期刊:Procedia Structural Integrity 作者:Hiroshi Nishiguchi; Masato Ino; Jun Fujise; Toshiaki Ono; Masaaki Tanaka; et al 出版日期:2022-01-01 |
求助人 |
从容的元芹
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2025-08-29 05:04:25 发布,悬赏 10 积分
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