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Employing Surface Curvature for Spatially Resolved X‐Ray Reflectivity: Graphene Domains on Liquid Copper 相关领域
材料科学
X射线反射率
光学
垂直的
同步加速器
准直光
曲率
弯曲分子几何
图像分辨率
薄膜
纳米技术
几何学
数学
物理
复合材料
激光器
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期刊:Advanced Materials Interfaces 作者:Valentina Belova; Maciej Jankowski; Mehdi Saedi; Irene M. N. Groot; G. Renaud; et al 出版日期:2023-04-18 |
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