Degradation modeling of InGaAs/InP avalanche photodiodes using calibrated technology computer-aided design

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标题	Degradation modeling of InGaAs/InP avalanche photodiodes using calibrated technology computer-aided design 基于校准技术的InGaAs/InP雪崩光电二极管退化建模计算机辅助设计相关领域雪崩光电二极管降级（电信）光电子学光电二极管材料科学砷化铟镓环境科学砷化镓光学电子工程工程类物理探测器
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2025.115636
DOI	10.1016/j.microrel.2025.115636 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Hyeon‐Seok Bang; Yunseok Han; Sun Ho Kim; Ilgu Yun 出版日期：2025-02-27
求助人	哈基米在 2025-12-17 11:49:53 发布自广东，悬赏 10 积分
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