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Graphene removal by water-assisted focused electron-beam-induced etching – unveiling the dose and dwell time impact on the etch profile and topographical changes in SiO2 substrates 相关领域
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期刊:Beilstein Journal of Nanotechnology 作者:Aleksandra Szkudlarek; Ján Michalík; Inés Serrano-Esparza; Z. Nováček; Veronika Novotná; et al 出版日期:2024-02-07 |
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