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Study on the Synergistic Effect of Electrical Bias and Proton Irradiation on the Electrical Performance Degradation of β-Ga₂O₃ Schottky Barrier Diodes 相关领域
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期刊:AIP Publishing 作者:Jianhui Bu; Siyuan Chen; Jingyao Su; Huiping Zhu; Tiexin Zhang; et al 出版日期:2026-05-13 |
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