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 Effect of Annealing on Morphological, Structural and Electrical Characteristics of Zinc Oxide Layer for RRAM Applications 退火对RRAM用氧化锌层形貌、结构和电学特性的影响
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Shikha Kaushik; Sujata Pandey; Rahul Singhal 出版日期：2022-03-01 |
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