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 Artifact Reduction for Sparse-View CT Using Deep Learning With Band Patch 基于带片深度学习的稀疏视图CT伪影抑制
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人工智能
计算机科学
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计算机视觉
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期刊：IEEE transactions on radiation and plasma medical sciences 作者：Takayuki Okamoto; Takashi Ohnishi; Hideaki Haneishi 出版日期：2022-04-20 |
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