ASTM F1535-19《Standard TestMethod for Measuring Minority CarrierLifetime in Bulk SemiconductorMaterials by Photoacoustic andPhotoconductive Decay Methods》

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标题	[高分] ASTM F1535-19《Standard TestMethod for Measuring Minority CarrierLifetime in Bulk SemiconductorMaterials by Photoacoustic andPhotoconductive Decay Methods》 ASTM F1535-19“用光声和光电导衰变法测量体半导体材料中少数载流子寿命的标准试验方法”
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其它	发布单位:美国材料与试验协会
求助人	酷炫的凡波在 2025-09-02 10:18:13 发布自上海，悬赏 70 积分
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