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 Carrier Mobility Enhancement of Tensile Strained Si and SiGe Nanowires via Surface Defect Engineering 表面缺陷工程增强拉伸应变Si和SiGe纳米线的载流子迁移率
相关领域
材料科学
钝化
纳米线
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拉伸应变
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期刊：Nano Letters 作者：J. W.; Woo Jung Lee; Jung Min Bae; Kwangsik Jeong; Sang Hoon Oh; et al 出版日期：2015-10-22 |
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